SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY IN MATERIALS SCIENCE

La scuola, organizzata dalla SISM e dall'Istituto CNR-IMM di Bologna, intende fornire i concetti e i principi fisici di base per l’utilizzo delle tecniche di microscopia elettronica a scansione e di microanalisi nell’ambito della scienza dei materiali. La scuola è rivolta a ricercatori, tecnici e studenti che intendano acquisire le competenze necessarie per il corretto utilizzo della microscopia elettronica a scansione (SEM), delle tecniche analitiche ad essa correlate e dei fasci ionici focalizzati (FIB) per lo studio e la caratterizzazione dei materiali. La scuola prevede sia lezioni teoriche che sessioni pratiche che prevedono di operare alle facilities strumentali di IMM Bologna che comprendono un SEM-FEG ed un SEM ambientale. E' inoltre prevista una sessione dimostrativa di utilizzo di strumentazione FIB/EBL, installata in ambiente controllato (Clean Room).

I° Corso Microscopia elettronica e confocale in ambito botanico

I° Corso Microscopia elettronica e confocale in ambito botanico

Il Corso intende fornire una visione generale delle possibilità che queste microscopie offrono ai ricercatori in ambito botanico, sia per quanto riguarda lo studio di campioni vegetali (piante, micro-alghe, ecc.) che delle loro interazioni con l’ambiente esterno. Il corso si compone di lezioni frontali e di una parte pratica che verrà svolta presso i laboratori del CIGS (Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti dell’Università di Modena e Reggio Emilia). Il numero di iscritti è limitato a 12 persone per facilitare sia l’interazione con i docenti che lo svolgimento delle sessioni strumentali.

CORRELATIVE MICROSCOPY IN LIFE AND MATERIALS SCIENCES

CORRELATIVE MICROSCOPY IN LIFE AND MATERIALS SCIENCES

The conference aims to update participants on innovative microscopy equipment which, by correlating the various features of optical and electron microscopy, can maximize the potential applications of morphological and ultrastructural methods. The conference will address the limits of sample preparation, the optimization of image processing, and the critical analysis of experimental results with different materials.

Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica TEM/STEM

Corso Base integrato di microscopia confocale e microscopia elettronica TEM/STEM

Il Dipartimento di Scienze della Vita ed il Centro Interdipartimentale Grandi Strumenti (C.I.G.S.) dell’Università degli Studi di Modena e Reggio Emilia, in collaborazione con la Società Italiana di Immunobiologia Comparata e dello Sviluppo (SIICS) e la Società Italiana di Scienze Microscopiche (SISM), organizzano il “13° Corso di Microscopia Confocale: Basi Teoriche e Pratiche”. Il corso è indirizzato a tutti coloro che sono interessati ad acquisire gli elementi di base necessari per utilizzare la microscopia confocale in ambito biologico. Nella prima giornata, il corso prevede lezioni teoriche in aula e sessioni pratiche sullo strumento, al fine di apprendere le metodiche e le procedure per acquisire immagini informative e di qualità. La seconda giornata di corso sarà incentrata sull’utilizzo e sulla gestione delle immagini digitali, con esercitazioni svolte individualmente al computer. Per informazioni: dott. Malagoli (davide.malagoli@unimore.it), dott.ssa Accorsi (alice.accorsi@unimore.it).

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